물질의 표면에 빛을 입사하여 그 반사되는 정도를 측정 하여 표면을 분석하는 장치

Spectral Range : 145 ~ 1700 nm(0.72 to 8.5eV)

Automated Angle : 35 ~ 90° / Accuracy : 0.01°

Environment : Purged with nitrogen/Vertical sample mount

System Configuration

- Source : Deuterium, Xenon Lamp

- Monochromator

- Polarizer

- AutoReader

- Sample

- Analyzer

- Detector