연구중심 대학

경희대학교 중앙기기센터

중점운영기기

X-선 회절분석기(XRD)

XRD(X-ray diffractometer)

모델명/제조사 X'Pert PRO / Malvern PANalytical
위 치 중앙기기센터 203호
예약문의 02-961-0215
장비설명

X-선이 물질의 결정면에서 회절, 산란되는 현상을 이용한 것으로 X-선 회절형을 측정하여 물질의 구조를 분석하는 장치이다.


- Target : Cu 2KW(Max. 60kV 55mA)

- Detector : X'Celarator / Parallel Plat Collimator

- High Temp. Chamber : room temp. ~ 1,200

- Primary Beam Optics(Line Focus)

  . NRD System/Programmable Divergernce Slits / Hybrid Monochromator(2X CU MPD PFX)

  . Beam Arrenuator/Beam- mask(20mm,10mm,4mm,2mm)/Slit(1/2,1/4,1/8,1/16,1/32), Filter(Nickel)

- Diffracted Beam Optics

  . Bracket/Spinner/Open Eulerian Cradle

- Database : PDF 2

- Program : XRR 분석용(Wingixa, Reflectivity)

- Consist of

  . 2x Monochrometer

  . Stage : Texture Cradle Stage OEC/Sample Spinner

  . Ultra Fast X'Celarator Detector

  . High Temp. system

용 도
- XRR(X-Ray Reflectivity)을 통하여 박막의 두께 측정
- 온도를 일정간격으로 상승시키면서 얻어지는 측정결과를 통하여 상의 변화 관찰
- 격자상수 측정, 결정크기, 결정의 배향성 등의 정보파악
- 특히 이 분석장치는 분말은 물론 박막에서의 고온측정이 가능하여 실시간으로 온도를 변화시키며, 결정의 구조를 분석 할 수 있으며, 'Celerator라는 고속 검출기를 이용하여 측정시 일반 검출기 보다 수배의 속도로 측정 가능
사용료