연구중심 대학

경희대학교 중앙기기센터

중점운영기기

원자힘현미경(AFM)

AFM(Atomic Force Microscope)

모델명/제조사 innova / Bruker
위 치 중앙기기센터 207호
예약문의 02-961-0215
장비설명

1. SPM Base System

2. SPM Controller

  1) SPM-computer interface electronics

  2) USB support

  3) 8x ADC channels with input selection with filters, gain, offset

  4) 13 DAC channels (24bit(x1), 16bit(x4), 12bit(x8)

  5) Two lock-in channels in SPM Controller

3. Large Area SPM Scanner

  1) Scan size: 90-micron x 90-micron

  2) Vertical range: 7.5-micron

  3) Single-tube piezoelectric scanner that supports all SPM modes, Inherently low Q factors maximize scan performance

  4) Scan size shown is nominal maxima for piezo drives of 0-400V in XY and of 0-300V in Z

  5) Closed loop Z for force curves and lift mode : Critical for accurate ramping and lifting, enabling accurate force curves and accurate EFM and MFM.

4. Conductive AFM

  1) Dynamic current range of 250 fA to 10 mA with typical noise of 250

  2) fA at highest gain of 10e11

  3) External preamplifier with 9 user-selectable gain ranges

  4) AFM chip carrier with special shield wire and BNC

5 Liquid Imaging

6. Electrochemistry Package

용 도
- 소재의 표면 형상 및 물리적 특성 측정
.원자의 3차원 구조 및 Å레벨의 정밀한 조도 측정
. Phase, LFM, Force Volume의 복합 소재의 특성 분석
- 단일/복합소재의 Nanoscale 영역에서의 전기적 , 물리적 특성 측정
. Force Spectroscopy, Conductive AFM, Electrochemistry 측정
- 바이오 연구를 위한 액중에서 샘플 측정이 가능
- SEM, TEM 보다 낮은 영역의 Nano size 측정에 사용 되며 단순 표면 측정뿐만 아니라 물질의 다양한 특성을 측정 분석 가능
사용료